Please use this identifier to cite or link to this item: http://repositorio.ugto.mx/handle/20.500.12059/2506
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dc.rights.licensehttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0es_MX
dc.creatorPEDRO PABLO ROCHA GARCIAes_MX
dc.date.accessioned2020-09-04T18:37:03Z-
dc.date.available2020-09-04T18:37:03Z-
dc.date.issued2015-
dc.identifier.urihttp://repositorio.ugto.mx/handle/20.500.12059/2506-
dc.description.abstractSe presenta una caracterización de guías de onda de acuerdo a sus propiedades de dispersión usando una técnica de interferometría de luz blanca. Se usa un analizador de espectros ópticos para el análisis del espectro óptico en la salida del interferómetro y así medir el índice de refracción del material en el rango de 400 a 700 nm aproximadamente. La técnica utiliza un interferómetro Michelson, el cual consta de dos brazos, en uno de ellos se pone el material a caracterizar y el otro se compone de un espejo montado en una base de traslación micrométrica para variar su longitud de camino óptico y así analizar unas series de interferogramas del espectro y medir la longitud de onda de ecualización en función del desplazamiento del espejo.es_MX
dc.language.isospaes_MX
dc.publisherUniversidad de Guanajuatoes_MX
dc.relationhttp://www.jovenesenlaciencia.ugto.mx/index.php/jovenesenlaciencia/article/view/281-
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesses_MX
dc.sourceJóvenes en la Ciencia: Verano de la Investigación Científica Vol. 1, No.2 (2015)es_MX
dc.titleDispersion characteristics of the optical waveguides for photonics applicationses_MX
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/articlees_MX
dc.creator.idinfo:eu-repo/dai/mx/cvu/787689es_MX
dc.subject.ctiinfo:eu-repo/classification/cti/2es_MX
dc.subject.keywordsLuz blancaes_MX
dc.subject.keywordsInterferometría espectrales_MX
dc.subject.keywordsAnalizador de espectros ópticoes_MX
dc.subject.keywordsInterferómetro Michelsones_MX
dc.subject.keywordsÍndice de refracciónes_MX
dc.type.versioninfo:eu-repo/semantics/publishedVersiones_MX
dc.creator.twoOLEKSIY SHULIKAuc
dc.creator.idtwoinfo:eu-repo/dai/mx/cvu/495210es_MX
dc.description.abstractEnglishWe present a characterization of waveguides by their dispersion properties using a white light interferometry technique. We use an optical spectrum analyzer for the analysis of the interferometer output spectrum and after that we measure the refraction index of the material in the rage from 400 to 700 nm approximately. The technique utilizes a Michelson interferometer which has two arms, in one of them we put the material and the other one is made with a mirror positioned in a movable micrometric base for change the optical path length and so analyzing a series of spectral interferograms for measuring the equalization wavelength as a function of the displacement of the mirror.en
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